发布时间：2021-09-13 13:59:39
磁痕显示的分类和记录
5.1 磁痕的分类和处理
5.1.1 磁痕显示分为相关显示、非相关显示和伪显示。
5.1.2 长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕，按条状磁痕处理;长度与宽度之比不大于3的磁痕，按圆形磁痕处理。
5.1.3 长度小于0.5mm的磁痕不计。
5.1.4 两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线I-N_间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
5.1.5 缺陷磁痕长轴方向与工件(轴类或管类)轴线或母线的夹角大于或等于30°时，按横向缺陷处理，其他按纵向缺陷处理。
5.2 缺陷磁痕的观察
5.2.1 缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
5.2.2 非荧光磁粉检测时，缺陷磁痕的评定应在可见光下进行，通常工件被检表面可见光照度应大于或等于10001x;当现场采用便携式设备检测，由于条件所限无法满足时，可见光照度可以适当降低，但不得低于5001x。
荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2，黑光波长应在320nm～400nm的范围内，缺陷磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不大于201x。检测人员进人暗区，至少经过3min的暗室适应后，才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时，检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5.2.3 除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外，其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时，应用2～10倍放大镜进行观察。
5.3 缺陷磁痕显示记录
缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
